Current Result Document :
ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) |
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ µ¥ÀÌÅÍÀÇ Æ¯Â¡ ºÎºÐ ÁýÇÕÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ÀÚ±âÁöµµ ÇнÀ |
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) |
Self-Supervised Learning Using Feature Subsets of Software Defect Data |
ÀúÀÚ(Author) |
ÃÖÁ¤È¯
·ù´ö»ê
Jeongwhan Choi
Duksan Ryu
|
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) |
VOL 48 NO. 02 PP. 0203 ~ 0205 (2021. 12) |
Çѱ۳»¿ë (Korean Abstract) |
Software Defect Prediction (SDP)Àº ÄÚµå ¸®ºä¿Í Å×½ºÆÃÀ» À§ÇÑ ¸®¼Ò½º¸¦ È¿°úÀûÀ¸·Î ÇÒ´çÇϵµ·Ï µµ¿òÀ» ÁØ´Ù. ÀÚ±âÁöµµ ÇнÀ(self-supervised learning)Àº µ¥ÀÌÅÍ ¼Ó¼ºÀ» ´õ Àß ÀÌÇØÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ¸ÖƼºä °üÁ¡À» µ¥ÀÌÅÍ Áõ°À» ÅëÇØ Á¦°øÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÀåÁ¡À» °¡Áø´Ù. º» ¿¬±¸ÀÇ ¸ñÇ¥´Â ¸ÖƼºä °üÁ¡ÀÇ ÀåÁ¡À» °¡Áø Subsetting features of Tabular (SubTab) ±â¹ýÀÌ SDPÀÇ ¿¹Ãø ¼º´É Çâ»ó¿¡ È¿°úÀûÀÎÁö È®ÀÎÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù. Within-Project Defect Prediction(WPDP)¿¡¼ SDP µ¥ÀÌÅÍÀÇ subsetµéÀ» »ç¿ëÇÏ¿© ¸ÖƼºä Ç¥Çö ÇнÀÀ¸·Î ÀüȯÇÑ´Ù. ½ÇÇè °á°ú ÀáÀç °ø°£ »ó¿¡¼ÀÇ subset µéÀ» À籸¼ºÇÏ´Â °ÍÀÌ ±âÁ¸ ¸Ó½Å·¯´× ±â¹Ý º£À̽º¶óÀÎµé º¸´Ù ´õ ÁÁÀº ¼º´ÉÀ» º¸¿´´Ù. ¸ÖƼºä Ç¥Çö ÇнÀ ŽºÅ©ÀÇ µµ¿òÀ¸·Î ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Ç°ÁúÀ» º¸ÀåÇϴµ¥ ÀÖ¾î Ŭ·¡½º ºÒ±ÕÇü ¹®Á¦¸¦ ÇØ°áÇÏ´Â ¿À¹ö»ùÇøµ ±â¹ýÀÇ »ç¿ë ¾øÀ̵µ ³ë·Â ºñ¿ëÀ» °¨¼ÒÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù. µû¶ó¼ ÀÚ±âÁöµµ ÇнÀ ±â¹ýÀÌ È¿À²ÀûÀÎ ¸®¼Ò½º ÇÒ´çÀ» ÅëÇØ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ½Å·Ú¼ºÀ» Çâ»ó½ÃÅ°´Âµ¥ À¯¿ëÇÏ´Ù. |
¿µ¹®³»¿ë (English Abstract) |
|
Å°¿öµå(Keyword) |
|
ÆÄÀÏ÷ºÎ |
PDF ´Ù¿î·Îµå
|